IEC61326-2-1Edition2.02012-10INTERNATIONALSTANDARDNORMEINTERNATIONALEElectricalequipmentformeasurement,controlandlaboratoryuse–EMCrequirements–Part2-1:Particularrequirements–Testconfigurations,operationalconditionsandperformancecriteriaforsensitivetestandmeasurementequipmentforEMCunprotectedapplicationsMatérielélectriquedemesure,decommandeetdelaboratoire–ExigencesrelativesàlaCEM–Partie2-1:Exigencesparticulières–Configurationsd'essai,conditionsfonctionnellesetcritèresdeperformancepouressaidesensibilitéetéquipementdemesurepourlesapplicationsnonprotégéesdelaCEMIEC61326-2-1:2012®CopyrightedmateriallicensedtoBRDemobyThomsonReuters(Scientific),Inc.,subscriptions.techstreet.com,downloadedonNov-27-2014byJamesMadison.Nofurtherreproductionordistributionispermitted.UncontrolledwhenprinteTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2012IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdelaCEIouduComiténationaldelaCEIdupaysdudemandeur.SivousavezdesquestionssurlecopyrightdelaCEIousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldelaCEIdevotrepaysderésidence.IECCentralOfficeTel.:+412291902113,ruedeVarembéFax:+41229190300CH-1211Geneva20info@iec.chSwitzerlandwww.iec.chAbouttheIECTheInternationalElectrotechnicalCommission(IEC)isth...
