CE160269-4(Troisièmeédition-1986)Amendement2(2002)Fusiblesbassetension-Partie4:Prescriptionssupplémentairesconcernantlesélémentsderemplacementutiliséspourlaprotectiondesdispositifsàsemi-conducteursIEC60269-4(Thirdedition-1986)Amendment2(2002)Low-voltagefuses-Part4:Supplementaryrequirementsforfuse-linksfortheprotectionofsemiconductorsdevicesCORRIGENDUM1Page16TableauXIIA-ValeurspourlesessaisdevérificationdupouvoirdecoupuredesfusiblespourcourantalternatifExplicationdessymbolesAulieude:12a.........Destempsinférieurspeuventêtrechoisispourdesapplicationsspéciales.lire:12a.........Destempsinférieursà30speuventêtrechoisispourdesapplicationsspéciales.Voirnotede7.4.Page18TableauXIIB-ValeurspourlesessaisdevérificationdupouvoirdecoupuredesfusiblespourcourantcontinuConstantedetempsAulieude:Lorsquelecourantprésuméd’essaiestsupérieurà20kA:10msà12mslire:Lorsquelecourantprésuméd’essaiestsupérieurà20kA:10msà15msPage17TableXIIA-Valuesforbreaking-capacitytestsona.c.fusesExplanationofsymbolsInsteadof:12aforspecialapplications..........Shortertimesmaybechosenread:12a.........Shortertimesthan30smaybechosenforspecialapplications.Seenoteof7.4.Page19TableXIIB-Valuesforbreaking-capacitytestsond.c.fusesTimeconstantInsteadof:Whereprospectivetestcurrentisgreaterthan20kA:10msto12msread:Whereprospectivetestcurrentisgreaterthan20kA:10msto15msCopyrightInternationalElectrotechnicalCommissionProvidedbyIHSunderlicensewithIECDocumentprovidedbyIHSLicensee=/5943408001,03/29/200421:23:49MSTQuestionsorcommentsaboutthismessage:pleasecalltheDocumentPolicyGroupat303-397-2295.--`,,`,`,``,````,,,,,`,````,```-`-`,,`,,`,`,,`---ExplicationdessymbolesAulieude:12acourantquiconduitàuneduréedepréarcd’aumoins30s,saufquelalimitesupérieurepeutêtredépasséesousré-servedel’accordduconstructeur.Destempsinférieurspeuventêtrechoisispourdesapplicationsspéciales.lire:12acourantquiconduitàuneduréedepréarcentre30set45s,saufquelalimitesupérieurepeutêtredépasséesousréservedel’accor...
