colourinsideIEC60749-32Edition1.12010-11INTERNATIONALSTANDARDNORMEINTERNATIONALESemiconductordevices–Mechanicalandclimatictestmethods–Part32:Flammabilityofplastic-encapsulateddevices(externallyinduced)Dispositifsàsemiconducteurs–Méthodesd'essaismécaniquesetclimatiques–Partie32:Inflammabilitédesdispositifsàencapsulationplastique(casd'unecauseextérieured'inflammation)IEC60749-32:2002+A1:2010®CopyrightedmateriallicensedtoBRDemobyThomsonReuters(Scientific),Inc.,subscriptions.techstreet.com,downloadedonNov-28-2014byJamesMadison.Nofurtherreproductionordistributionispermitted.UncontrolledwhenprinteTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2010IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdelaCEIouduComiténationaldelaCEIdupaysdudemandeur.SivousavezdesquestionssurlecopyrightdelaCEIousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldelaCEIdevotrepaysderésidence.IECCentralOffice3,ruedeVarembéCH-1211Geneva20SwitzerlandEmail:inmail@iec.chWeb:www.iec.chAbouttheIECTheInternationalElectrotechnicalCommission(IEC)istheleadingglobalorganizationthatpreparesandpublishesInternationalStandardsforallelectrical,electronicandrelatedtechnologies.AboutIECpublicationsThetechnicalcontentofIECpublicationsiskeptunderconstantreviewbytheIEC.Ple...
