IEC60749-44Edition1.02016-07INTERNATIONALSTANDARDNORMEINTERNATIONALESemiconductordevices–Mechanicalandclimatictestmethods–Part44:Neutronbeamirradiatedsingleeventeffect(SEE)testmethodforsemiconductordevicesDispositifsàsemiconducteurs–Méthodesd'essaismécaniquesetclimatiques–Partie44:Méthoded'essaideseffetsd'unévénementisolé(SEE)irradiéparunfaisceaudeneutronspourdesdispositifsàsemiconducteursIEC60749-44:2016-07(en-fr)®colourinsideCopyrightInternationalElectrotechnicalCommissionTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2016IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdel'IECouduComiténationaldel'IECdupaysdudemandeur.Sivousavezdesquestionssurlecopyrightdel'IECousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldel'IECdevotrepaysderésidence.IECCentralOfficeTel.:+412291902113,ruedeVarembéFax:+41229190300CH-1211Geneva20info@iec.chSwitzerlandwww.iec.chAbouttheIECTheInternationalElectrotechnicalCommission(IEC)istheleadingglobalorganizationthatpreparesandpublishesInternationalStandardsforallelectrical,electronicandrelatedtechnologies.AboutIECpublicationsThetechnicalcontentofIECpublicationsiskeptunderconstantreviewbytheIEC.Pleasemakesurethatyouhavethelatestedition,acorrigendaoranamendmentmighthavebeenpublished.IECCatalo...
