IEC_60749-2-2002_сor1-2003.pdf
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IEC_60749
2002
or1
2003
CEI 60749-2(Premire dition 2002)DISPOSITIFS SEMICONDUCTEURS MTHODES DESSAIS MCANIQUESET CLIMATIQUES Partie 2:Basse pression atmosphriqueIEC 60749-2(First edition 2002)SEMICONDUCTOR DEVICES MECHANICAL AND CLIMATIC TEST METHODS Part 2:Low air pressureC O R R I G E N D U M 1Page 2Au lieu de:Le comit a dcid que le contenu decette publication ne sera pas modifiavant 2012.lire:Le comit a dcid que le contenu decette publication ne sera pas modifiavant 2007.Page 3Instead of:The committee has decided that thecontents of this publication will remainunchanged until 2012.read:The committee has decided that thecontents of this publication will remainunchanged until 2007.Aot 2003August 2003
