CEI60749-2(Premièreédition–2002)DISPOSITIFSÀSEMICONDUCTEURS–MÉTHODESD'ESSAISMÉCANIQUESETCLIMATIQUES–Partie2:BassepressionatmosphériqueIEC60749-2(Firstedition–2002)SEMICONDUCTORDEVICES–MECHANICALANDCLIMATICTESTMETHODS–Part2:LowairpressureCORRIGENDUM1Page2Aulieude:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2012.lire:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2007.Page3Insteadof:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2012.read:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2007.Août2003August2003
