IEC_60674-2-1988_amd1-2001.pdf

NORMEINTERNATIONALECEIIECINTERNATIONALSTANDARD60674-21988AMENDEMENT 1AMENDMENT 12001-10Amendement 1Spcification pour les films en matire plastique usages lectriques Partie 2:Mthodes dessaiAmendment 1Specification for plastic films for electricalpurposes Part 2:Methods of test Commission Electrotechnique Internationale International Electrotechnical CommissionPour prix,voir catalogue en vigueurFor price,see current catalogue IEC 2001 Droits de reproduction rservs Copyright-all rights reservedInternational Electrotechnical Commission3,rue de Varemb Geneva,SwitzerlandTelefax:+41 22 919 0300e-mail:inmailiec.ch IEC web site http:/www.iec.chCODE PRIXPRICE CODEGLICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.2 60674-2 amend.1 CEI:2001AVANT-PROPOSLe prsent amendement a t tabli par le sous-comit 15C:Spcifications,du comitdtudes 15 de la CEI:Matriaux isolants.Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:FDISRapport de vote15C/1263/FDIS15C/1310/RVDLe rapport de vote indiqu dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti lapprobation de cet amendement.Le comit a dcid que le contenu de la publication de base et de ses amendements ne serapas modifi avant 2005.A cette date,la publication serareconduite;supprime;remplace par une dition rvise,ouamende._Page 4Ajouter la liste des publications CEI la nouvelle rfrence suivante:CEI 60260:1968,Enceintes dpreuve humidit relative constante fonctionnant sans injectionde vapeurPage 2616 Facteur de dissipation PermittivitRemplacer le titre et le texte existants par les suivants:16 Facteur de dissipation et permittivitLa gamme de frquences comprises entre 50 Hz et 100 MHz est couverte et deux mthodessont disponibles.16.1 Mthode 1Lessai doit tre ralis sur une prouvette plane conformment la CEI 60250,modifie parles dispositions du prsent article,une frquence devant faire Iobjet dun accord entrefournisseur et acheteur et une temprature de 23 C 2 K sauf spcification contraireindique dans la spcification approprie du matriaux de la CEI 60674-3.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.60674-2 Amend.1 IEC:2001 3 FOREWORDThis amendment has been prepared by subcommittee 15C:Specifications,of IEC technicalcommittee 15:Insulating materialsThe text of this amendment is based on the following documents:FDISReport on Voting15C/1263/FDIS15C/1310/RVDFull information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report onvoting indicated in the above table.The committee has decided that the contents of the base publication and its amendments willremain unchanged until 2005.At this date,the publication will bereconfirmed;withdrawn;replaced by a revised edition,oramended._Page 5Add to the list of IEC publications the following new reference:IEC 60260:1968,Test enclosures of non-injection type for constant relative humidityPage 2716 Dissipation factor and permittivityReplace the existing text with the following:A frequency range of 50 Hz to 100 MHz is covered and two methods are available.16.1 Method 1The test shall be made on a flat specimen in accordance with IEC 60250,modified by theinstructions of this clause,at a frequency to be agreed between purchaser and supplier and ata temperature of 23 C 2 K unless otherwise specified in the relevant material specification ofIEC 60674-3.LICENSED TO MECON Limited.-RANCHI/BANGALOREFOR INTERNAL USE AT THIS LOCATION ONLY,SUPPLIED BY BOOK SUPPLY BUREAU.4 60674-2 amend.1 CEI:2001Pour les basses frquences et les films de forte paisseur,il est courant deffectuer lesmesures sur des prouvettes constitues dune seule couche de film.Cependant il a t tablique les films de trs faible paisseur mesurs une frquence suprieure 1 MHz peuventtre mieux essays avec plus de prcision en utilisant un ensemble important de couches(feuilles)de matriaux mesurer.Lair doit tre chass de lempilage par pressage.Lpaisseur moyenne de lprouvette est dtermine partir de la densit du matriau,de lasurface de Iempilage et de sa masse.16.1.1 Echantillon et manipulation de lprouvetteLchantillonnage doit tre ralis conformment la spcification du matriau.Ltat et leconditionnement du matriau ne doivent pas tre modifis.Les chantillons et les prouvettes doivent tre manipuls avec soin pour viter la contami-nation,les raflures et les empreintes de doigt.Au moins trois prouvettes doivent tre utilises sauf spcification contraire dans la spcifi-cation approprie du matriau.16.1.2 Conditionnement des chantillons avant les mesuresTout conditionnement pralable aux mesures doit tre ralis conformment aux spcificationsdu matriau,ou alors selon un accord entre fournisseur et acheteur.NOTE 1 Les proprits des matriaux constituant les films peuvent tre substantiellement affectes par lhumidit.Les conditions normalises dutilisation,avant et pendant les essais des matriaux isolants lectriques solides sontdonnes dans la CEI 60212.Les