CEI60749-11(Premièreédition–2002)Dispositifsàsemiconducteurs–Méthodesd’essaismécaniquesetclimatiques–Partie11:Variationsrapidesdetempérature–MéthodedesdeuxbainsIEC60749-11(Firstedition–2002)Semiconductordevices–Mechanicalandclimatictestmethods–Part11:Rapidchangeoftemperature–Two-fluid-bathmethodCORRIGENDUM1Page10Tableau1–TolérancesdetempératuresdechocthermiqueetfluidessuggérésSousA–TempératureDansrangéeEtape2–TolérancedetempératureAulieude:−40030−,lire:−40010−.Page11Table1–ThermalshocktemperaturetolerancesandsuggestedfluidsUnderA–TemperatureInrowStep2–TemperaturetoleranceInsteadof:−40030−,read:−40010−.Janvier2003January2003
