IEC61000-4-22Edition1.02010-10INTERNATIONALSTANDARDNORMEINTERNATIONALEElectromagneticcompatibility(EMC)–Part4-22:Testingandmeasurementtechniques–Radiatedemissionsandimmunitymeasurementsinfullyanechoicrooms(FARs)Compatibilitéélectromagnétique(CEM)–Partie4-22:Techniquesd'essaietdemesure–Mesuresdel'immunitéetdesémissionsrayonnéesdansdesenceintescomplètementanéchoïques(FAR)IEC61000-4-22:2010BASICEMCPUBLICATIONPUBLICATIONFONDAMENTALEENCEM®CopyrightedmateriallicensedtoBRDemobyThomsonReuters(Scientific),Inc.,subscriptions.techstreet.com,downloadedonNov-28-2014byJamesMadison.Nofurtherreproductionordistributionispermitted.UncontrolledwhenprinteTHISPUBLICATIONISCOPYRIGHTPROTECTEDCopyright©2010IEC,Geneva,SwitzerlandAllrightsreserved.Unlessotherwisespecified,nopartofthispublicationmaybereproducedorutilizedinanyformorbyanymeans,electronicormechanical,includingphotocopyingandmicrofilm,withoutpermissioninwritingfromeitherIECorIEC'smemberNationalCommitteeinthecountryoftherequester.IfyouhaveanyquestionsaboutIECcopyrightorhaveanenquiryaboutobtainingadditionalrightstothispublication,pleasecontacttheaddressbeloworyourlocalIECmemberNationalCommitteeforfurtherinformation.Droitsdereproductionréservés.Saufindicationcontraire,aucunepartiedecettepublicationnepeutêtrereproduiteniutiliséesousquelqueformequecesoitetparaucunprocédé,électroniqueoumécanique,ycomprislaphotocopieetlesmicrofilms,sansl'accordécritdelaCEIouduComiténationaldelaCEIdupaysdudemandeur.SivousavezdesquestionssurlecopyrightdelaCEIousivousdésirezobtenirdesdroitssupplémentairessurcettepublication,utilisezlescoordonnéesci-aprèsoucontactezleComiténationaldelaCEIdevotrepaysderésidence.IECCentralOffice3,ruedeVarembéCH-1211Geneva20SwitzerlandEmail:inmail@iec.chWeb:www.iec.chAbouttheIECTheInternationalElectrotechnicalCommission(IEC)istheleadingglobalorganizationthatpreparesandpublishesInternationalStandardsforallelectrical,electronicandrelatedtechnologies.AboutIECpublicationsThetechnicalcontentofIECp...
