CEI60749-1(Premièreédition–2002)DISPOSITIFSÀSEMICONDUCTEURS–MÉTHODESD'ESSAISMÉCANIQUESETCLIMATIQUES–Partie1:GénéralitésIEC60749-1(Firstedition–2002)SEMICONDUCTORDEVICES–MECHANICALANDCLIMATICTESTMETHODS–Part1:GeneralCORRIGENDUM1Page6Aulieude:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2012.lire:Lecomitéadécidéquelecontenudecettepublicationneserapasmodifiéavant2007.Page7Insteadof:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2012.read:Thecommitteehasdecidedthatthecontentsofthispublicationwillremainunchangeduntil2007.Août2003August2003
