IEC_60060_-_2__High_Voltage_Test_techniques.pdf

IEC60-29448448910612408772NORMECEIINTERNATIONALEIECINTERNATIONAL60-2STANDARD1994AMENDEMENT1AMENDMENT 11996-03Amendement 1Techniques des essais a haute tensionPartie 2:Systemes de MesureAmendment 1High-voltage test techniquesPart2:Measuring SystemsCEI 1996 Droits de reproduction rservs-Copyright-all rights reservedBureau Central de la Commission Electrotechnique Intemationale 3,rue de Varemb Genve,SuisseIECCommission Electrotechnique InternationaleCODE PRIXInternational Electrotechnical CommissionPRICE CODENMeapo,Ha neTporexHecH HoMHPour prix,voir cataogue en vigueurFor price,see current catalogueCoyriht ntematonal ecttchical CoProvided by HS undeSIEMENSTue Mar 30 16:49:09 MST 2004proucton or netorng pemitted without cense from HSIEC60-29448448910612409639-2-60-2 amend.1CEl:1996AVANT-PROPOSLe present amendement a ete etabli par le comite detudes 42 de la CEl:Technique des essaisa haute tension.Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:FDISRapport de vote42/121/FD1S42/125/RVDLe rapport de vote indique dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote ayantabouti a lapprobation de cet amendement.Page 6SOMMAIREAjouter le titre de Iannexe H suivant:H Procedure pour Iestimation de Iincertitude lors de la mesure des hautes tensionsPage 132Ajouter,apres Iannexe G,la nouvelle annexe H suivante:Annexe H(informative)Procedure pour Iestimation de lincertitudelors de la mesure des hautes tensionsH.1 IntroductionLa presente partie de la CEI 60 donne les exigences auxquelles doit repondre un Systeme deMesure Approuve pour mesurer les hautes tensions dans les limites dincertitude fixees par lapresente partie de la CEl 60 et pour consigner les resultats appropries dans le Recueil deCaracteristiques.La presente annexe donne une procedure pour estimer Iincertitude globale a un niveau deconfiance donne.Les regles darrondissage des valeurs mesurees et des incertitudes estimeessont fournies.H.2 Principes generauxLincertitude est une declarationdes limites(U)de la plage de valeurs dans laquelle on sattend a trouver la valeur vraiedune mesure par rapport au resultat enregistre,etde la probabilite pour que la valeur vraie soit a linterieur de ces limites;cette probabiliteest exprimee comme un niveau de-confiance.mtetatnfeeeriaht IntemSIEMENSTu030164909M8T2004reproduction or networking without Icense from IHSIeC 60-2 944844891061241035060-2 Amend.1 IEC:1996-3-FOREWORDThis amendment has been prepared by IEC technical committee 42:High-voltage testingtechniques.The text of this amendment is based on the following documents:FDISReport on voting42/121/FDIS42/125/RVDFull information on the voting for the approval of this amendment can be found in the report onvoting indicated in the above table.Page 7CONTENTSAdd the title of annex H as follows:H Procedure for estimating uncertainty in high-voltage measurementsPage 133Add,after annex G,the following annex H:Annex H(informative)Procedure for estimating uncertaintyin high-voltage measurementsH.1 IntroductionThis part of IEC 60 gives the requirements for an Approved Measuring System to be used forhigh-voltage measurements within the limits of uncertainty given in this part of IEC 60 and forthe relevant statements to be entered in the Record of Performance.This annex gives a procedure for estimating the overall uncertainty at a given confidence level.Rules for rounding measured values and estimated uncertainties are given.H.2 General principlesUncertainty is a statement of:-the limits(U)of the range of values within which the true value of a measurement isexpected to lie in relation to the recorded result and-the probability of the true value lying within these limits;this probability is expressed as aconfidence level.Copyright intemational Electrotechnical CommissionSIEMENSTue Mar 30 16:49:09 MST 2004o reproduction or networking pemted without license from IHSIeC 60-2 9448448910612411297-4-60-2 amend.1 CEl:1996Un exemple de mesure avec son incertitude est:1 040 kV 20 kV(estim avec un niveau de confiance dau moins 95%)Toutes les mesures sont a un certain point imparfaites.Un Systeme de Mesure peut treinfluenc par diffrentes grandeurs(par exemple la temprature,la proximit de structures a laterre ou sous tension,les interfrences,etc.).Gnralement on observe que,lorsquunemesure est rpte plusieurs fois,il y a une dispersion des rsultats(quand les exigences dela CEI 60 sont satisfaites,cette dispersion tend a saffaiblir).Quand une mesure est rpte ungrand nombre de fois,la plupart des rsultats sont proches dune valeur centrale et cettevaleur centrale tend vers une valeur constante au fur et a mesure que le nombre de mesuresest augmente.Un grand nombre dessais a haute tension ne permettent deffectuer quune seule mesure.Dautres exigent plusieurs mesures,par exemple 10,comme dans larticle 6 de la prsentepartie de la CEI 60.Une mesure unique peut prendre nimporte quelle valeur de la distributionvraisemblable.Les diffrences possibles entre une valeur unique(ou la moyenne dun petitnombre de mesures)et la moyenne de la distribution des valeurs possibles fournissent unecontribution aleatoire de lincertitude.Cette annexe fournit les procdures pour traiter un nombre quelconque de rptitions dunemesure.Dans la plupart des mesures,Iincertitude globale resultera dune combinaison de plusieurscontributions qui sont classes en deux catgories,selon la mthode utilise pour valuerleurs valeurs numeriques 1*.H.2.1 Contributions systmatiques(Type B 1)Les contributions systmatiques sont celles qui ne sont pas values statistiquement mais sontestimes par dautres moyens.Quelques exemples sont:-Iincertitude dtalonnage du Systeme de Mesure(ou de ses constituants),inscrite dansle certificat detalonnage;-la drive de la valeur du coefficient de conversion du Systeme de Mesure(par exemple,le vieillissement);-Iutilisation en permanence dun Systeme de Mesure dans des conditions diffrentes decelles de Italonnage(par exemple une temprature diffrente);-la resolution de chaque instrument.Des lors quun Systeme de Mesure(ou un constituant)a t talonn et quil est alors utilisdans un essai,Iincertitude de Italonnage est traite comme lune des contributionssystmatiques dans Iestimation de Iincertitude du rsultat dessai.H.2.1.1 Contributions systmatiques(rectangulaires)On considere que ces contributions systmatiques ont une distribution rectangulaire,cest-a-dire que nimporte quelle valeur mesure entre les limites estimes(a ou a est la valeur de lademi-plage)est supposee etre equiprobable.Les chiffres entre crochets renvoient a H.7 Documents de rfrence.SIEMENSovded by IHS under lcense with ITue Mar 30 16:49:09 MST 2004No reproducton or networking permitted without license from IHSIeC60-2944844891061241212360-2 Amend.1 IEC:1996-5-An example of a measurement with its uncertainty is:1 040 kV 20 kV(estimated confidence level not less than 95%)All measurements are to some degree imperfect.A Measuring System will be influenced byvarious quantities(e.g.temperature,proximity of earthed or energised structures,interferenceetc.).It will generally be found that when a measurement is repeated several times there will bea spread in the results(when the requirements of this part of IEC 60 are met this spread willbe small).When a measurement is repeated a large number of times,most of the resultswill be close to a central value and this central value will tend to a constant value as thenumber of measurements is increased.Many high-voltage tests permit only a single measurement.Others require several measure-ments,e.g.10 as in clause 6 of this part of IEC 60.A single measurement may give any valuein the likely distribution.The possible differences between a single value(or the mean of asmall number of measurements)and the mean of the distribution of all possible values gives arandom contribution of uncertainty.This annex provides procedures to deal with any number of repetitions of a measurement.In most measurements,the overall uncertainty will result from a combination of severalcontributions which are classified into two categories according to the method used to evaluatetheir numerical values 1*.H.2.1 Systematic contributions(Type B 1)Systematic contributions are those which are not evaluated statistically but are estimated byother means.Some examples are:-the uncertainty of the calibration of the Measuring System(or its components),stated inthe calibration certificate;-the drift in the value of the scale factor of the Measuring System(e.g.ageing);-the use of a Measuring System under constant conditions which are different from thoseof the calibration(e.g.different temperature);-the resolution of each instrument.Once a Measuring System(or a component)has been calibrated and is then used in a test,theuncertainty of the calibration is treated as one of the systematic contributions in the estimationof the uncertainty of the test result.H.2.1.1 Systematic contributions(rectangular)It is assumed that these systematic contributions have a rectangular distribution,that is,anymeasured value between the estimated limits(a,where a is the semi-range value)is assumedto be equally probable.The figures in square brackets refer to H.7 Reference documents.Copyright nternational Electrotechnical CommissionSIEMENSrovided by IHS under license with IECTue Mar 30 16:49:09 MST 2004No reproduction or networking permitted without license from IHS